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SSY-9光學(xué)像差實(shí)驗(yàn)是我公司針對(duì)眼視光相關(guān)專業(yè)課程配套開發(fā)的一套實(shí)驗(yàn)，主要是通過觀察各種像差現(xiàn)象，了解各種像差形成的原因以及對(duì)成像質(zhì)量的影響。

SSZ-8手動(dòng)偏振光實(shí)驗(yàn)裝置是手動(dòng)調(diào)節(jié)，非聯(lián)機(jī)使用的偏振光實(shí)驗(yàn)裝置。采用高靈敏度激光功率測(cè)量裝置相對(duì)測(cè)量，數(shù)字顯示，增益連續(xù)可調(diào)。布儒斯特角測(cè)量時(shí)毛玻璃屏顯示，特殊的觀察窗結(jié)構(gòu)，既可以用人眼直接觀察，也可以接入專用光電探測(cè)器進(jìn)行定量測(cè)量。650nm激光器與LED多種光源用于布儒斯特角測(cè)量光源，比較單色光和復(fù)合光作光源時(shí)布儒斯特角的區(qū)別，并分別定量測(cè)量分析偏離布儒斯特角時(shí)的消光比。

SMG-1型邁克爾遜干涉儀是我公司自主研發(fā)的一套實(shí)驗(yàn)儀器，該儀器是我們通過借鑒傳統(tǒng)干涉儀的經(jīng)典設(shè)計(jì)，并結(jié)合全新的平臺(tái)式結(jié)構(gòu)精心設(shè)計(jì)而成的。目前，它是高等院校物理實(shí)驗(yàn)中觀察光的各種干涉現(xiàn)象并驗(yàn)證相關(guān)基礎(chǔ)理論的重要光學(xué)儀器。

此邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)儀采用平臺(tái)式設(shè)計(jì)，使研究物質(zhì)便于加入光路中，可用于物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)，觀察等傾干涉，等厚干涉以及白光干涉，可測(cè)定單色光波長(zhǎng)、鈉黃雙線波長(zhǎng)、透明介質(zhì)薄片和空氣折射率等，是研究此類實(shí)驗(yàn)的理想儀器。

SS-LZH-15 夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)儀該儀器設(shè)備采用液晶觸摸顯示屏式結(jié)構(gòu)，操作直觀便捷，可在液晶屏上直接進(jìn)行數(shù)據(jù)設(shè)置、數(shù)值讀取以及觀察夫蘭克-赫茲管的IA～VGK曲線；夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)是為了研究原子內(nèi)部的能量時(shí)態(tài)問題，用低速電子去轟擊原子，從而觀察他們之間的相互能量傳遞過程，證明原子內(nèi)部量子化能級(jí)的存在。

SS-LZH-7 條紋投影三維外形測(cè)量實(shí)驗(yàn)系本實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)利用投影式莫爾輪廓測(cè)量系統(tǒng)，將基準(zhǔn)光柵的像通過光學(xué)系統(tǒng)投影到待測(cè)物體的表面，受物體表面高度調(diào)制而形成變形光柵。儀器用CCD將物體表面變形的條紋圖像采集進(jìn)計(jì)算機(jī)，對(duì)被測(cè)物面莫爾等高條紋進(jìn)行相移法自動(dòng)處理。測(cè)量物體三維輪廓技術(shù)是近幾年國(guó)際上研究的熱門課題之一，該技術(shù)廣泛的應(yīng)用于反求工程計(jì)算,CAD/CAM計(jì)算,醫(yī)療診斷，模具設(shè)計(jì)，在線檢測(cè)等領(lǐng)域。

SS-LCL-4 光學(xué)非線性測(cè)量?jī)x主要采用激光Z掃描技術(shù)，同時(shí)考慮飽和光譜測(cè)量方法,光限制測(cè)量方法及其光模式傳輸測(cè)量等技術(shù),綜合考慮設(shè)計(jì)而成,其光路簡(jiǎn)單（采用單光束），測(cè)量靈敏度高，可同時(shí)測(cè)量樣品的非線性折射率和非線性吸收系數(shù)及光斑信息和光學(xué)限制效應(yīng)等。

SS-DS-3/5手動(dòng)光柵光譜儀采用手動(dòng)掃描，通過數(shù)字顯示來讀取波長(zhǎng)，操作簡(jiǎn)單、實(shí)用、可靠性好，通過手動(dòng)操作可充分鍛煉學(xué)生動(dòng)手能力。產(chǎn)品主要用于大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)和各科研單位作光譜分析之用。

SS-WDS-8/8A組合式多功能光柵光譜儀是將入射的復(fù)合光變成單色光射出，再通過光電采集送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。產(chǎn)品主要用于大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)和各科研單位作光譜分析之用。

SS-WDS-6光學(xué)多通道光柵光譜儀采用CCD（電荷耦合器件）作為接收單元，可以實(shí)時(shí)采集，進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，極大地拓寬了儀器應(yīng)用范圍。產(chǎn)品主要用于大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)和各科研單位作光譜分析之用。